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1、製程能力分析方法介紹講師:Tony.Wu/GQSD製程能力分析方法介紹介紹內(nèi)容:一.X-R管制圖二.製程能力(CP/CPK)三.Z-分佈圖X-R管制圖功能:可以讓我們知道製程上的差異,其中有些參數(shù)亦可應(yīng)用在“製程能力”的計算式中.方便又容易.條件:1.先建立製程用之管制圖.2.將製程變得穩(wěn)定3.然後再評估製程的能力.作法步驟:X-R管制圖A.收集足夠資料.最好能得到製程全部變化數(shù)據(jù).第一階段需50個讀值.第二階段需25個讀值.第三階段需25個讀值.B.依數(shù)據(jù)與公式計算出自然管制界限與相關(guān)參數(shù).X-R管制圖自然管制上限(UCL)
2、=CL+A2xR自然管制下限(LCL)=CL-A2xRX管制圖公式:註:CL:所有數(shù)據(jù)之平均值(又稱為doublebarX)A2:參數(shù)值須查表.值之大小依樣品數(shù)目決定.R:全部全距(R)的平均值.R:一組數(shù)據(jù)中最大值減最小值所得之值.又稱為全距.R管制圖公式:X-R管制圖自然管制上限(UCL)=D4xR自然管制下限(LCL)=D3xR註:D3,D4:參數(shù)值須查表.值之大小依樣品數(shù)目決定.R的值是R管制圖的中心值.製程能力功能:可顯示出生產(chǎn)製程的能力是否達到可生產(chǎn)狀況.a.一般而言CP>1.33時,該製程屬平穩(wěn)可生產(chǎn).b.若CP
3、<1.33時,該製程屬不平穩(wěn),需小心管制.c.CP值愈大顯示製程的製造能力愈穩(wěn)定.CP值愈小則顯示製程的製造能力愈不足,需要作許多的改善.製程能力公式:製程能力值CP=規(guī)格上限值-規(guī)格下限值6σ(製程分佈值)σ(Sigama)=R/d2≒SR:可採用X-R管制圖的“全距(R)的平均值”.d2:參數(shù)值須查表.值之大小依樣品數(shù)目決定.本公式適用於規(guī)格有設(shè)定上下限值者(max/min值).製程能力製程能力計算方式如附件所示.GO製程能力值CPK(U)=規(guī)格上限值-實際平均值3σ(製程分佈值)本公式適用於規(guī)格只有設(shè)定上限值(max值)
4、.製程能力值CPK(L)=實際平均值-規(guī)格下限值3σ(製程分佈值)本公式適用於規(guī)格只有設(shè)定下限值(min值).功能:可提供瞭解製程的變異與不穩(wěn)定趨勢,預(yù)先提出改善預(yù)防.請參閱下頁例子說明.Z=規(guī)格值-全部數(shù)據(jù)的平均值(X)σ(Sigama)以上X,σ值與X-R管制圖之值相同.Z分佈Z分佈例子說明:假設(shè):d2=2.326X=0.8312Z分佈R=0.01435步驟1.用X-σ管制圖或X-R管制圖找出自然管制上下管制界限.σ=Rd20.01435=2.3260.00617=UCL=X+3σ=0.8312+3x0.00617=0.8
5、497LCL=X-3σ=0.8312-3x0.00617=0.8127步驟2.計算出UCL/LCL超出規(guī)格上下限所佔之比率Z(UCL)=規(guī)格上限-0.8312σ=0.84-0.83120.00617=1.426由Z分佈表查知1.426所佔面積約0.423=42.3%超出規(guī)格上限的不良比率:50%-42.3%=7.7%Z分佈Z(LCL)=規(guī)格下限-0.8312σ=0.82-0.83120.00617=-1.8152由Z分佈表查知1.8152所佔面積約0.4653=46.53%超出規(guī)格下限的不良比率:50%-46.53%=3.47
6、%步驟3.將超出規(guī)格上下限的不良比率相加即等於製程不良率製程不良率=7.7%+3.47%=11.17%(估計值)Z分佈LCL=0.8127UCL=0.8497規(guī)格下限=0.82規(guī)格上限=0.8446.53%42.3%X=0.83123.47%7.7%3σ3σ製程不良趨勢圖LCLUCL規(guī)格下限規(guī)格上限3σ3σ6σxσσUCL及LCL都在規(guī)格上下限之內(nèi),且距離規(guī)格上下限皆有一個δ以上,此種狀況正表示製程能力很好,且非常穩(wěn)定.製程不良趨勢圖LCLUCL規(guī)格下限規(guī)格上限x製程不良趨勢圖此圖表示,製程有變異存在,整個分佈圖往規(guī)格上限偏移
7、,致使UCL超出規(guī)格上限,以致有不良會產(chǎn)生.LCLUCL規(guī)格下限規(guī)格上限3σ3σ製程不良趨勢圖L=σM=σ0=0(單邊)不良率=0.135%(雙邊)不良率=0.27%=2700PPM6σ製程不良趨勢圖LCLUCL規(guī)格下限規(guī)格上限3σ3σ8σMML=σM=σσ=1(單邊)不良率=32PPM=31.7PPM(雙邊)不良率=64PPMExposureis32PPM製程不良趨勢圖LCLUCL規(guī)格下限規(guī)格上限3σ3σMM10σL=σM=σ2σ=2(單邊)不良率=0.3PPM(雙邊)不良率=0.6PPM日本常用製程不良趨勢圖LCLUCL規(guī)
8、格下限規(guī)格上限3σ3σ12σMML=σM=σ3σ=3(單邊)不良率=1pt/billion(雙邊)不良率=2pt/billion
